更新時(shí)間:2024-06-19
儀器型號:
MiniTest 400系列是德國EPK公司推出的型超聲波測厚儀。該系列產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便,速度快,可靠性高等特點(diǎn)。
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超聲波測厚儀MiniTest 400/400A/400B
高精準超聲波測厚儀
高阻抗雙晶探頭
脈沖-回波方式 量程達0.65-500mm
回波-回波方式(透過(guò)涂層測量) 量程達3-25mm
堅固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實(shí)驗室及工業(yè)現場(chǎng)使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局部腐蝕、銹蝕的檢測。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、造船、機械、化工、電力、原子能等各工業(yè)部門(mén)的產(chǎn)品檢驗。
MiniTest 400系列是德國EPK公司推出的型超聲波測厚儀。該系列產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便,速度快,可靠性高等特點(diǎn)。
標準配置 可選配置
儀器主機 小管徑探頭
帶連接電纜的探頭一支 管內壁探頭
耦合劑(75ml) 鑄鐵探頭
2節5號電池 高溫耦合劑等
通訊電纜,通訊軟件(僅限400A/B)
塑料手提箱
中英文說(shuō)明書(shū)
保修卡
技術(shù)參數
項目 |
參數 |
400 |
400A |
400B | |
零位校準 | 開(kāi)機自動(dòng)零位校準 |
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測量參數 | 發(fā)射-回波模式,量程0.65-500mm | 標準測量:滿(mǎn)足常用的檢測要求 | ● | ● | ● |
zui小值測量:滿(mǎn)足曲面或需要選擇zui小值的測量環(huán)境 | ● | ● | ● | ||
差分測量:顯示實(shí)際測量值與設定標準值的差值 |
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平均測量:提供2-9點(diǎn)的測量平均值 |
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上下限測量:極限報警 |
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回波-回波模式,量程3-25mm | 透過(guò)涂層測量基體厚度 |
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快速掃查模式 | 適用于高溫或需要提高測量速度的測量環(huán)境,每秒10次的測量,可以同時(shí)顯示測量中的zui大值和zui小值 |
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數據存儲 | 10組5000個(gè)數據,動(dòng)態(tài)分配 |
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數據輸出 | USB接口,通過(guò)USB接口上傳儀器中存儲的數據到計算機 |
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顯示信息 | 測量值,聲速值,探頭型號,電池電量,當前數據組 | ||||
示值精度 | 小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm | ||||
單位 | 公制/英制 | ||||
聲速范圍 | 1000m/s - 9999m/s | ||||
增益 | 自動(dòng);手動(dòng)可調 | ||||
聲速測量 | 確定未知聲速材料的聲速,預置9種常用材料聲速值 | ||||
探頭識別 | 自動(dòng)識別探頭 | ||||
關(guān)機選擇 | 可選擇2分鐘,5分鐘自動(dòng)關(guān)機或選擇不自動(dòng)關(guān)機 | ||||
外形尺寸 | 130 × 73 × 24 mm(L×W×H) | ||||
重量 | 約190g | ||||
工作溫度 | -20至50攝氏度 | ||||
電池 | 兩節5號電池,電量顯示,電量不足報警 | ||||
工作時(shí)間 | 不間斷測量不少于80小時(shí) | ||||
顯示屏 | 128×64 背光 |
可選探頭:
型號 |
晶體直徑 |
頻率 |
測量范圍 |
工作溫度 |
簡(jiǎn)介 |
EP8E | 8MM | 5.0MHZ | 3-25MM(E-E) 0.8-300MM(T-E) | -12~+60℃ | 400B標配探頭,400B*探頭,具有透過(guò)涂層測量模式。zui小測量管外徑20mm |
EP4 | 4MM | 10.0MHZ | 0.65-20MM | -12~+60℃ | 小管徑探頭。zui小測量管外徑10mm |
EP6 | 6MM | 7.5MHZ | 0.65-50MM | -12~+60℃ | 主要用于薄壁及小弧面的測量. zui小測量管外徑15mm |
EP8 | 8MM | 5.0MHZ | 0.8-350MM | -12~+60℃ | 400,400A標配探頭,主要用于測量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測量管外徑20mm |
ECP12 | 12MM | 2.0MHZ | 2.0-500MM | -12~+60℃ | 粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測量。zui小測量管外徑30mm |
EHP13 | 13MM | 5.0MHZ | 3.0-200MM | -12~+350℃ | 高溫探頭,主要用于測量溫度小于350℃的材料的測量, 注:測量時(shí)晶體與被測高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S。zui小測量管外徑25mm |
注:另有管內壁探頭可選。
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