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ST2258C型多功能數字式四探針測試儀概述      

ST2258C型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量?jì)x器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針?lè )ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā凡⒖济绹?nbsp;A.S.T.M 標準。
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類(lèi)功能，最大分類(lèi)10類(lèi)。
      探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類(lèi)半導體、金屬、導電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測量。配專(zhuān)用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
      測試臺選配：一般四探針?lè )y試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針?lè )y試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測試臺的特點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導體材料廠(chǎng)器件廠(chǎng)、科研單位、高等院校對導體、半導體、類(lèi)半導體材料的導電性能的測試。 

ST2258C型多功能數字式四探針測試儀基本技術(shù)參數

1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個(gè)數量級）
    電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
    電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
    方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□ 
               （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
    直    徑： SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
     長(cháng)(高)度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
     測量方位:  軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級 

 4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5.外形尺寸： 245mm（長(cháng)）×220 mm（寬）×95mm（高）